Nanographen und Graphen im STM und SFM

Der Autor zeigt in dieser Arbeit kompakt und anschaulich, dass Nanometer große Graphene (Nanographene) in Verbindung mit Graphen an einer Oberfläche ein Materialsystem mit anwendungsfreundlichen Eigenschaften darstellt. An Hand von Untersuchungen im Rastertunnelmikroskop (STM) legt er verständlich dar, dass strukturelle und elektronische Eigenschaften des Materialsystems homogen, definiert und stabil vorliegen. Nanographen und Graphen besitzen somit entscheidende Voraussetzungen für Anwendungen in elektronischen sowie sensorischen Bauelementen. Der Autor zeigt mit Hilfe mechanisch manipulatorischer Untersuchungen im Rasterkraftmikroskop (SFM), welche Besonderheiten Graphen als atomar dünnes Material bei definierten Schnitt- sowie Faltprozessen aufweist. Er zieht als einen grundlegenden Schluss, dass sich Graphen mechanisch wie makroskopische Objekte verhält und mit einem entsprechenden Modell beschreiben lässt.

Autorentext

Dr. Stefan Eilers studierte Physik an der Humboldt-Universität zu Berlin und fertigte seine Diplomarbeit über Halbleiter-Magnetfeldsensoren an. Er forschte im Rahmen seiner Doktorarbeit am Institut für Physik der Humboldt-Universität an Nanographen und Graphen.