Advances in X-Ray Analysis. Vol.36

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Inhalt

Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). XRS Techniques and Instrumentation: Diffraction Peaks in XRay Spectroscopy (R.G.Tissot, R.P. Goehner). OnLine, Industrial, and Other Applications of XRS: Application of XRF in the Aluminum Industry (F.R. Feret). XRay Characterization of Thin Films: Grazing Incidence XRay Characterization of Materials (D.K. Bowen, M. Wormington). WholePattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods: Phase Identification Using WholePattern Matching (D.K. Smith et al.). Polymer Applications of XRD. HighTemperature and NonAmbient Applications of XRD. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis. XRD Techniques and Instrumentation. 71 additional articles. Index.

Weitere Informationen

  • Allgemeine Informationen
    • GTIN 09780306445712
    • Editor John V. Gilfrich, Ting C. Huang, C. R. Hubbard, M. R. James, Ron Jenkins, G. R. Lachance, Deane K. Smith
    • Sprache Englisch
    • Genre Chemie
    • Größe H254mm x B41mm x T178mm
    • Jahr 1993
    • EAN 9780306445712
    • Format Fester Einband
    • ISBN 978-0-306-44571-2
    • Titel Advances in X-Ray Analysis. Vol.36
    • Autor Gilfrich
    • Gewicht 1460g
    • Herausgeber Springer, Berlin
    • Anzahl Seiten 685

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