Aufbau eines Laser-Scan-Mikroskops mit matched-masks Phasenkontrast

In der vorliegenden Arbeit werden die Entwicklungund der Aufbau eines Laser-Scan-Mikroskops mit einemneuen Phasenkontrastverfahren beschrieben. Diesbeinhaltet den Aufbau der mechanischen, optischensowie elektronischen Komponenten, um das Mikroskopgrundlegend zu erstellen. Des Weiteren wird dieEntwicklung einer neuen Abbildungsmethode, demmatched-masks Phasenkontrast, vorgestellt.Der Laserstrahl wird auf ein Objekt, das auf einemPiezotisch befestigt ist, fokussiert, wobei dasObjekt zeilenweise abgerastert wird. Eine Photodiodedetektiert die vom Objekt reflektierten Signale. Einmit LabView erstelltes Computerprogrammrekonstruiert aus diesen Signalen ein vergrößertesBild des Objekts. Über ein Videomikroskop kann derFokus auf der Objektebene aufgefunden sowie dieBewegung des Scanners optimal überprüft werden.Das Buch richtet sich an Physiker, Ingenieure sowietechnische Unternehmen, für die Mikroskopie vonBedeutung ist.

Autorentext

Silke Pfinninger, Dipl.-Ing. (FH): Studium der Lasertechnik an der FH Koblenz, RheinAhrCampus Remagen. Lasertechnik-Ingenieurin bei der Firma MDC Max Daetwyler AG in der Entwicklungsabteilung Engraving.

Klappentext

In der vorliegenden Arbeit werden die Entwicklung und der Aufbau eines Laser-Scan-Mikroskops mit einem neuen Phasenkontrastverfahren beschrieben. Dies beinhaltet den Aufbau der mechanischen, optischen sowie elektronischen Komponenten, um das Mikroskop grundlegend zu erstellen. Des Weiteren wird die Entwicklung einer neuen Abbildungsmethode, dem matched-masks Phasenkontrast, vorgestellt. Der Laserstrahl wird auf ein Objekt, das auf einem Piezotisch befestigt ist, fokussiert, wobei das Objekt zeilenweise abgerastert wird. Eine Photodiode detektiert die vom Objekt reflektierten Signale. Ein mit LabView erstelltes Computerprogramm rekonstruiert aus diesen Signalen ein vergrößertes Bild des Objekts. Über ein Videomikroskop kann der Fokus auf der Objektebene aufgefunden sowie die Bewegung des Scanners optimal überprüft werden. Das Buch richtet sich an Physiker, Ingenieure sowie technische Unternehmen, für die Mikroskopie von Bedeutung ist.