Caractérisation À L Échelle Nanométrique D Interfaces Métal/Sioxny
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Ignace Jarrige obtient son doctorat en chimie physique àl'Université Pierre et Marie Curie Paris 6 en 2003. Il embarque pour le Japon en 2004, où ilse familiarise avec différentes techniques de diffusion et spectroscopie de rayons Xsur le synchrotron SPring-8. En 2007, il devient chercheur à l'agence de l'énergieatomique japonaise.
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GarantieWeitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- GTIN 09786131502002
- Altersempfehlung 1 bis 16 Jahre
- Sprache Französisch
- Genre Langue et de Littérature
- Anzahl Seiten 192
- Größe H220mm x B150mm x T12mm
- Jahr 2018
- EAN 9786131502002
- Format Kartonierter Einband
- ISBN 978-613-1-50200-2
- Veröffentlichung 28.02.2018
- Titel Caractérisation À L Échelle Nanométrique D Interfaces Métal/Sioxny
- Autor Jarrige-I
- Gewicht 304g
- Herausgeber KS Omniscriptum Publishing
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