Controlling the aging of power transistors

This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments.

Autorentext

T. Ben Salah, profesor ISSAT Sousse, doktor INSA Lyon/FSM, ekspert w dziedzinie energoelektroniki. Specjalizuje si w projektowaniu komponentów, EMC i integracji systemów wbudowanych. Opracowuje innowacyjne rozwi zania dla krytycznych aplikacji. Podej cie cz ce modelowanie, symulacj i walidacj eksperymentaln .