Defektanalyse mit KI

KI und ihre Anwendungen werden heute überall eingesetzt, und unser Ziel ist es, die Bedeutung derselben zu klären, um Fehler zu finden. Für die Analyse der Defekte sind verschiedene Merkmale erforderlich, und es sind auch viele Vorverarbeitungen erforderlich. Die Analyse von Metallfehlern wird daher durchgeführt und die Klassifizierung hilft bei der Entscheidung über die weitere Verwendung des Metalls. Die verschiedenen Produktionsprobleme können also gelöst werden, wenn die Klassifizierung des Metalls effizient durchgeführt wird.

Autorentext
Prof. Ankur Singh Bist ist Assistenzprofessor am KIET Ghaziabad. Sein Forschungsgebiet ist die Computervirologie. Er hat mehr als 100 Forschungsarbeiten verfasst. Er hat als Kernmitglied an verschiedenen Konferenzen von IEEE, Springer usw. teilgenommen. Er hat als Gutachter/Herausgeber an mehr als 40 Konferenzen in Indien, Japan, Malaysia usw. teilgenommen.