Experimentelle Bestimmung des Kapazitätsverhaltens von Halbleiterdiode

In dieser Arbeit soll das Kapazitätsverhalten verschiedener Dioden untersucht werden. Die Arbeit behandelt zwei mögliche Lösungsansätze, um die Diodenkapazität mit an der FH Kärnten zur Verfügung stehenden Messgeräten zu bestimmen. Die erste Methode basiert auf der Messung der von der Diodenkapazität gespeicherten Ladung mittels Oszilloskop. Dafür wurde ein geeigneter Mess-Aufbau entworfen und eine Leiterplatte gebaut. Um zu verstehen, wie die Kapazität der Diode gemessen werden kann, wurden die mathematischen Beschreibungen des Vorgangs hergeleitet und die Physik von Halbleiterbauelementen dargestellt. Die automatische Datenerfassung und Auswertung erfolgt mittels eines speziell entwickelten MATLAB-Programms. Die zweite Methode beschreibt die Kapazitätsbestimmung mittels LCR-Meter. Eine Analyse und ein Vergleich der mit beiden Methoden gemessenen Werte mit den Datenblättern der Dioden-Hersteller werden ebenfalls vorgestellt. Die gewonnenen Erkenntnisse der ersten und zweiten Methode werden gegenübergestellt. Im Ausblick werden Möglichkeiten für weitere Untersuchungen der Kapazität von Dioden präsentiert.

Autorentext

Natalya Lavrentik, Studierende an der Fachhochschule Kärnten.