Experimentelle Techniken zur Materialcharakterisierung - Teil 1

Dieses Buch befasst sich mit verschiedenen Werkzeugen zur Materialcharakterisierung mit Schwerpunkt auf Morphologie/Topologie und strukturellen Eigenschaften der Materialien. Im Kapitel über die morphologischen Charakterisierungswerkzeuge werden vor allem das Transmissionselektronenmikroskop (TEM), das Rasterelektronenmikroskop (SEM) und das Rasterkraftmikroskop (AFM) besprochen, während das Kapitel über die strukturelle Charakterisierung die Details des Röntgendiffraktometers (XRD), der Neutronenbeugung, des Ramanmikroskops und der Elektronenstrahlbeugung (SAED) enthält. Hier haben wir unser Bestes gegeben, um jedes Detail der experimentellen Techniken zu erklären, was für neue Lernende sehr hilfreich sein wird.

Autorentext

Il Dr. Vanaraj Solanki ha conseguito il suo master (M.Sc) in fisica (2008) presso la S. P. University, VVNagar, e il Ph.D presso l'Institute of Physics, Bhubaneswar, India. Ha anche lavorato al Materials Research Centre, Indian Institute of Science, Bangalore, durante il suo postdoc. Attualmente, il dottor Solanki lavora come ricercatore presso KRADLE, CHARUSAT, Changa.