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Ferroelectric Memories
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7NIJVIGPUQ0
Geliefert zwischen Fr., 27.02.2026 und Mo., 02.03.2026
Details
The book gives a comprehensive introduction to the field by an established expert on ferroelectric memories
State-of-the-art device designs are illustrated among the book's many figures. More than 500 up-to-date references and 76 problems for students make the book useful both as a research reference and as a text for graduate or advanced undergraduate students. This book is the only single-authored one in the field, all the other are edited collections of papers.
Inhalt
- Introduction.- 2. Basic Properties of RAMs (Random Access Memories).- 3. Electrical Breakdown (DRAMs and NV-RAMs).- 4. Leakage Currents.- 5. CapacitanceVoltage Data: C(V).- 6. Switching Kinetics.- 7. Charge Injection and Fatigue.- 8. Frequency Dependence.- 9. Phase Sequences in Processing.- 10. SBT-Family Aurivillius-Phase Layer Structures.- 11. Deposition and Processing.- 12. Nondestructive Read-Out Devices.- 13. Ferroelectrics-on-Superconductor Devices: Phased-Array Radar and 10100 GHz Devices.- 14. Wafer Bonding.- 15. Electron-Emission and Flat-Panel Displays.- 16. Optical Devices.- 17. Nanophase Devices.- 18. Drawbacks and Disadvantages.- A. Exercises.
Weitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- GTIN 09783642085659
- Genre Elektrotechnik
- Auflage Softcover reprint of hardcover 1st edition 2000
- Sprache Englisch
- Lesemotiv Verstehen
- Anzahl Seiten 268
- Größe H235mm x B155mm x T15mm
- Jahr 2010
- EAN 9783642085659
- Format Kartonierter Einband
- ISBN 3642085652
- Veröffentlichung 15.12.2010
- Titel Ferroelectric Memories
- Autor James F. Scott
- Untertitel Springer Series in Advanced Microelectronics 3
- Gewicht 411g
- Herausgeber Springer Berlin Heidelberg
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