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Fiabilité des micro-interrupteurs en technologie MEMS
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Titulaire d''un doctorat en Génie Électrique (Grenoble INP) et d''un diplôme d''ingénieur en Science des Matériaux (Polytech''Grenoble), l''auteur est spécialisé en micro et nanotechnologies. Son expertise en fiabilité des microsystèmes est le fruit de plusieurs années de recherche menées au CEA-Leti et chez Schneider Electric.
Weitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- Sprache Französisch
- Titel Fiabilité des micro-interrupteurs en technologie MEMS
- Veröffentlichung 01.10.2010
- ISBN 6131537658
- Format Kartonierter Einband
- EAN 9786131537653
- Jahr 2010
- Größe H220mm x B150mm x T17mm
- Autor Maxime Vincent
- Untertitel tude des mcanismes de dfaillance du contact lectrique
- Gewicht 411g
- Anzahl Seiten 264
- Herausgeber Éditions universitaires européennes
- GTIN 09786131537653
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