Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie

Dieses Buch konzentriert sich auf das Funktionsprinzip des AFM, seine verschiedenen Modi (d.h. Kontakt-, berührungslose und Klopfmodi), die Analyse einiger AFM-Ergebnisse und einige Anwendungen. Dieses Buch unterstreicht auch die Eigenschaften des AFM als vielseitiges und nützliches morphologisches Werkzeug zum Scannen einer großen Vielfalt von Oberflächen mit einer planaren Auflösung, die von Nanometerskalen bis hin zu atomaren Skalen reicht. Wir hoffen, dass dieses Buch für Forscher und Studenten hilfreich ist, um das Grundkonzept des AFM zu verstehen und es für verschiedene Arten von Proben einzusetzen.

Autorentext

Dr. Vanaraj Solanki erwarb seinen Master (M.Sc) in Physik (2008) an der S. P. University, VVNagar, und promovierte am Institute of Physics, Bhubaneswar, Indien. Während seiner Postdoc-Zeit arbeitete er auch am Materials Research Centre, Indian Institute of Science, Bangalore. Gegenwärtig arbeitet Dr. Solanki als Forschungswissenschaftler bei KRADLE, CHARUSAT, Changa.