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Progress in Transmission Electron Microscopy 1
Details
A wide-ranging description of recent progress and new approaches for researchers and graduate students in microscopy and materials science.
Reviews the modern developments that have made transmission electron microscopy indispensible for materials research. Includes supplementary material: sn.pub/extras
Inhalt
1 The Modern Microscope Today.- 2 The Quest for Ultra-High Resolution.- 3 Z-Contrast Imaging in the Scanning Transmission Electron Microscope.- 4 Inelastic Scattering in Electron Microscopy-Effects, Spectrometry and Imaging.- 5 Quantitative Analysis of High-Resolution Atomic Images.- 6 Electron Crystallography-Structure determination by combining HREM, Crystallographic image processing and electron diffraction.- 7 Electron Amorphography.- 8 Weak-Beam Electron Microscopy.- 9 Point Group and Space Group Identification by Convergent Beam Electron Diffraction.- 10 Advanced Techniques in TEM Specimen Preparation.
Weitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- GTIN 09783642087172
- Auflage Softcover reprint of hardcover 1st edition 2001
- Editor Ze Zhang, Xiao-Feng Zhang
- Sprache Englisch
- Genre Maschinenbau
- Lesemotiv Verstehen
- Anzahl Seiten 388
- Größe H235mm x B155mm x T21mm
- Jahr 2010
- EAN 9783642087172
- Format Kartonierter Einband
- ISBN 3642087175
- Veröffentlichung 01.12.2010
- Titel Progress in Transmission Electron Microscopy 1
- Untertitel Concepts and Techniques
- Gewicht 587g
- Herausgeber Springer Berlin Heidelberg