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Progress in Transmission Electron Microscopy 2
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46I1615JGA0
Geliefert zwischen Do., 26.02.2026 und Fr., 27.02.2026
Details
A wide-ranging description of recent progress and new approaches for researchers and graduate students in microscopy and materials science.
Reviews the modern developments that have made transmission electron microscopy indispensible for materials research Includes supplementary material: sn.pub/extras
Inhalt
- The Guidance Role of HRTEM in Developing Mesoporous Molecular Sieves.- 2. HREM Study of Carbon Nanoclusters Grown from Carbon Arc-Discharge.- 3. Determining the Helicity of Carbon Nanotubes by Electron Diffraction.- 4. Low-Dimensional Materials and their Microstructures Studied by High-Resolution Electron Microscopy.- 5. Microstructure of High-Tc Superconducting Josephson Junctions.- 6. Swift Heavy Ion Irradiation Damage in Superconductors.- 7. TEM Investigations of Misfit Dislocations in Lattice-Mismatched Semiconductor Heterostructures.- 8. Dislocated Contrast Analysis.- 9. Transmission Electron Cryomicroscopy and Three-Dimensional Reconstruction of Macromolecular Complexes.
Weitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- GTIN 09783642087189
- Auflage Softcover reprint of hardcover 1st edition 2001
- Editor Ze Zhang, Xiao-Feng Zhang
- Sprache Englisch
- Genre Maschinenbau
- Lesemotiv Verstehen
- Anzahl Seiten 328
- Größe H235mm x B155mm x T18mm
- Jahr 2010
- EAN 9783642087189
- Format Kartonierter Einband
- ISBN 3642087183
- Veröffentlichung 19.10.2010
- Titel Progress in Transmission Electron Microscopy 2
- Untertitel Applications in Materials Science
- Gewicht 499g
- Herausgeber Springer Berlin Heidelberg
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