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Restricted randomization
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RMLC64D019U
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Details
High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Many processes have more than one source of variation in them. In order to reduce variation in processes, these multiple sources must be understood, and that often leads to the concept of nested or hierarchical data structures. For example, in the semiconductor industry, a batch process may operate on several wafers at a time (wafers are said to be nested within batch). Understanding the input variables that control variation among those wafers, as well as understanding the variation across each wafer in a run, is an important part of the strategy for minimizing the total variation in the system.
Weitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- GTIN 09786130339715
- Editor Lambert M. Surhone, Miriam T. Timpledon, Susan F. Marseken
- Sprache Englisch
- Größe H220mm x B150mm x T5mm
- Jahr 2010
- EAN 9786130339715
- Format Fachbuch
- ISBN 978-613-0-33971-5
- Titel Restricted randomization
- Untertitel Statistical Dispersion, Variance Reduction, Batch Production, Wafer, Dependent and Independent Variables, Sampling, Standard Deviation, Robustification, Random Effects Model
- Gewicht 147g
- Herausgeber Betascript Publishers
- Anzahl Seiten 88
- Genre Mathematik
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