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Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
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PUTHPB6ATPG
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Geliefert zwischen Mi., 08.04.2026 und Do., 09.04.2026
Details
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.
Weitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- GTIN 09783731514022
- Genre Physics
- Auflage 25001 A. 1. Auflage
- Lesemotiv Verstehen
- Anzahl Seiten 210
- Herausgeber Karlsruher Institut für Technologie
- Größe H13mm x B148mm x T210mm
- Jahr 2025
- EAN 9783731514022
- Format Kartonierter Einband
- ISBN 978-3-7315-1402-2
- Titel Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
- Autor Chia-Wei Chen
- Gewicht 400g
- Sprache Englisch
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