RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range

Name: RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range
SKU: 9L3H56EOHAP
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Details

Measurement at millimeter-wave frequencies are prone to parasitic effects which distort the overall results. Especially the use of RF probes introduces unknown distortions, even after the measurement setup is calibrated. This works investigates these distortions based on electromagnetic field simulations of integrated circuits in conjunction with models of the used RF probes. This allows to comprehend the observed distortions and successfully resolve the root of the distortions.

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Weitere Informationen

Allgemeine Informationen
- GTIN 09783731508229
- Genre Elektrotechnik
- Sprache Englisch
- Lesemotiv Verstehen
- Anzahl Seiten 214
- Größe H210mm x B148mm x T14mm
- Jahr 2018
- EAN 9783731508229
- Format Kartonierter Einband
- ISBN 3731508222
- Veröffentlichung 24.11.2018
- Titel RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range
- Autor Daniel Müller
- Untertitel Dissertationsschrift
- Gewicht 317g
- Herausgeber Karlsruher Institut für Technologie

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