Wir verwenden Cookies und Analyse-Tools, um die Nutzerfreundlichkeit der Internet-Seite zu verbessern und für Marketingzwecke. Wenn Sie fortfahren, diese Seite zu verwenden, nehmen wir an, dass Sie damit einverstanden sind. Zur Datenschutzerklärung.
Secondary Ion Mass Spectrometry
CHF 37.25
Auf Lager
SKU
8VLJTVQIG0Q
1 Verfügbar 
Geliefert zwischen Mi., 26.11.2025 und Do., 27.11.2025
Details
Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a technique used in materials science and surface science to analyze the composition of solid surfaces and thin films by sputtering the surface of the specimen with a focused primary ion beam and collecting and analyzing ejected secondary ions. These secondary ions are measured with a mass spectrometer to determine the elemental, isotopic, or molecular composition of the surface. SIMS is the most sensitive surface analysis technique, being able to detect elements present in the parts per billion range.
Weitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- GTIN 09786137908464
- Genre Technik
- Auflage Aufl.
- Editor Aeron Charline
- Anzahl Seiten 72
- Herausgeber Betascript Publishing
- Größe H220mm x B220mm
- EAN 9786137908464
- Titel Secondary Ion Mass Spectrometry
- Untertitel Materials Science, Surface Science
Bewertungen
Schreiben Sie eine Bewertung
