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Secondary Ion Mass Spectrometry
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8VLJTVQIG0Q
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Geliefert zwischen Fr., 27.02.2026 und Mo., 02.03.2026
Details
Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a technique used in materials science and surface science to analyze the composition of solid surfaces and thin films by sputtering the surface of the specimen with a focused primary ion beam and collecting and analyzing ejected secondary ions. These secondary ions are measured with a mass spectrometer to determine the elemental, isotopic, or molecular composition of the surface. SIMS is the most sensitive surface analysis technique, being able to detect elements present in the parts per billion range.
Weitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- GTIN 09786137908464
- Auflage Aufl.
- Editor Aeron Charline
- Genre Technik
- Anzahl Seiten 72
- Größe H220mm x B220mm
- EAN 9786137908464
- Titel Secondary Ion Mass Spectrometry
- Untertitel Materials Science, Surface Science
- Herausgeber Betascript Publishing
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