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Selected Area Diffraction
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PG2LC4164S3
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Details
Selected area (electron) diffraction (abbreviated as SAD or SAED), is a crystallographic experimental technique that can be performed inside a transmission electron microscope (TEM). In a TEM, a thin crystalline specimen is subjected to a parallel beam of high-energy electrons. As TEM specimens are typically ~100 nm thick, and the electrons typically have an energy of 100-400 kiloelectron volts, the electrons pass through the sample easily. In this case, electrons are treated as wave-like, rather than particle-like (see wave-particle duality).
Weitere Informationen
- Allgemeine Informationen
- GTIN 09786138544166
- Auflage Aufl.
- Editor Bartholomei Timotheos Crispinus
- Sprache Englisch
- Genre Physik & Astronomie
- Größe H220mm x B220mm
- Jahr 2011
- EAN 9786138544166
- Format Kartonierter Einband (Kt)
- ISBN 978-613-8-54416-6
- Titel Selected Area Diffraction
- Untertitel Crystallography
- Herausgeber Betascript Publishing
- Anzahl Seiten 84
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