Speicherzuverlässigkeit und Lebensdauervorhersage von elektromagnetischen Relais

Als kritische Komponente in elektrischen und elektronischen Systemen müssen elektromagnetische Relais strenge Standards für die Speicherzuverlässigkeit erfüllen. Die derzeitige Forschung zu ihrer Speicherzuverlässigkeit bleibt jedoch begrenzt, wobei die bestehenden Studien mit mehreren Problemen konfrontiert sind: unvollständige Überwachung der Parameter während der Tests, unklare Ursachen für Leistungsschwankungen, unzureichende Analyse der Mechanismen des Spannungsrelaxationsversagens, Mangel an genau definierten Charakterisierungsparametern, suboptimale Datenmodellierungsmethoden und unzureichende Bewertungs- und Vorhersageansätze. Folglich ist es eine dringende Herausforderung, die Analyse der Speicherzuverlässigkeit und die Entwicklung von Methoden zur Lebensdauervorhersage für elektromagnetische Relais voranzutreiben.

Autorentext

Zhaobin Wang arbeitet seit 2007 an der Jiangsu University of Science and Technology in China und ist derzeit Assistenzprofessor. Er promovierte am Harbin Institute of Technology in elektrischen Maschinen und elektrischen Geräten. Sein Forschungsinteresse gilt der Speicherzuverlässigkeit, der Prüftechnik und der Lebensdauervorhersage von elektrischen Geräten.