SRAM-Design in Nanometer-Technologien

Bei der Entwicklung von VLSI, wo eine Verbesserung der Mindestversorgungsspannung und eine Änderung der Speicherzugriffs- oder Zykluszeiten um einige Pico-Sekunden einen großen Einfluss auf die Leistung von SoC-Designs haben. Die Schreib- und Lesestabilität von SRAM-Zellen ist bei niedrigen Versorgungsspannungen und auch bei Prozess-, Spannungs- und Temperaturschwankungen von größter Bedeutung. Wenn eine niedrige Versorgungsspannung an die SRAM-Zelle angelegt wird, kann der Schreibvorgang nicht durchgeführt werden, da die Zelle nicht auf die gewünschten Spannungspegel kippen kann. Zur Verringerung von Schreibfehlern bei niedrigen Versorgungsspannungen wird eine Schreibhilfsschaltung vorgeschlagen, die eine negative Bitleitungsspannung verwendet und die SRAM-Zelle dabei unterstützt, auf die gewünschten Spannungspegel zu kippen und den Schreibvorgang zu unterstützen.Wenn eine niedrige Versorgungsspannung an die SRAM-Zelle angelegt wird, kann der Lesevorgang in der ausgewählten Zelle nicht durchgeführt werden und die in der Zelle gespeicherten Daten werden in den nicht ausgewählten Zellen gestört. Die vorgeschlagene Schaltungstechnik zur Leseunterstützung bei niedriger WL-Spannung verhindert, dass die Daten in den nicht ausgewählten Zellen gestört werden, und unterstützt auch den Lesevorgang in der ausgewählten Zelle.

Autorentext

A. Pulla Reddy, Professor Associado, Departamento de ECE. Tem 12 anos de experiência de ensino e a sua área de investigação inclui circuitos electrónicos digitais e analógicos.Prof. G. Sreenivasulu, Professor, Departamento de ECE. Tem mais de 20 anos de experiência de ensino e investigação e a sua área de interesse inclui Circuitos Electrónicos Analógicos e Digitais.