Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

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Details

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2020, held in Padua, Italy, in January 2021.

The 35 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 81 submissions.

The accepted papers cover the major topics of current interest in pattern recognition, including classification and clustering, deep learning, structural matching and graph-theoretic methods, and multimedia analysis and understanding.


Inhalt
Classification and data processing.- Deep learning.- Graph-theoretic methods.- Multimedia analysis and understanding.

Weitere Informationen

  • Allgemeine Informationen
    • GTIN 09783030739720
    • Genre Information Technology
    • Auflage 1st edition 2021
    • Editor Andrea Torsello, Luca Rossi, Antonio Robles-Kelly, Battista Biggio, Marcello Pelillo
    • Anzahl Seiten 392
    • Größe H235mm x B155mm x T22mm
    • Jahr 2021
    • EAN 9783030739720
    • Format Kartonierter Einband
    • ISBN 3030739724
    • Veröffentlichung 10.04.2021
    • Titel Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
    • Untertitel Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2020, Padua, Italy, January 21-22, 2021, Proceedings
    • Gewicht 593g
    • Herausgeber Springer International Publishing
    • Sprache Englisch

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