Techniques de dépôt et de caractérisation des couches minces

Cet ouvrage présente une vue d'ensemble des techniques de dépôt de couches minces et de leur évaluation pour les systèmes avancés de stockage d'énergie. Il met en lumière deux méthodes de fabrication rentables et polyvalentes, la synthèse hydrothermale et l'électrodéposition, qui permettent de contrôler la morphologie, la structure et la composition des films dans des conditions de traitement douces. L'accent est mis sur la caractérisation, car les performances des films minces sont étroitement liées à leurs caractéristiques structurelles, chimiques et morphologiques. Le livre couvre les outils analytiques clés tels que la diffraction des rayons X (XRD), la spectroscopie Raman, le MEB, la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS), l'analyse BET et le FTIR, expliquant comment chaque technique contribue à la compréhension de la cristallinité, de la liaison, des états d'oxydation, de la composition élémentaire et de la zone de surface.Ce livre est un guide pratique pour les étudiants, les chercheurs et les ingénieurs qui travaillent sur la fabrication et l'analyse de couches minces fonctionnelles pour les technologies de stockage d'énergie de la prochaine génération.

Autorentext

A Dra. Radhika S. Desai (que trabalha como professor assistente no GEC Karad) centra-se na utilização de nanomateriais especificamente para o desenvolvimento de aplicações de supercapacitores.O Dr. Dhanaji S. Dalavi (que trabalha como professor assistente na KMR, Rethare Bk) especializa-se em películas finas funcionais e suas aplicações em dispositivos electrocrómicos e de armazenamento de energia.

Klappentext

Cet ouvrage présente une vue d'ensemble des techniques de dépôt de couches minces et de leur évaluation pour les systèmes avancés de stockage d'énergie. Il met en lumière deux méthodes de fabrication rentables et polyvalentes, la synthèse hydrothermale et l'électrodéposition, qui permettent de contrôler la morphologie, la structure et la composition des films dans des conditions de traitement douces. L'accent est mis sur la caractérisation, car les performances des films minces sont étroitement liées à leurs caractéristiques structurelles, chimiques et morphologiques. Le livre couvre les outils analytiques clés tels que la diffraction des rayons X (XRD), la spectroscopie Raman, le MEB, la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS), l'analyse BET et le FTIR, expliquant comment chaque technique contribue à la compréhension de la cristallinité, de la liaison, des états d'oxydation, de la composition élémentaire et de la zone de surface.Ce livre est un guide pratique pour les étudiants, les chercheurs et les ingénieurs qui travaillent sur la fabrication et l'analyse de couches minces fonctionnelles pour les technologies de stockage d'énergie de la prochaine génération.