Technische Analyse der 337-Untersuchung gegenüber China

CHF 86.60
Auf Lager
SKU
8SIEDIHKKAE
Stock 1 Verfügbar
Free Shipping Kostenloser Versand
Geliefert zwischen Di., 04.11.2025 und Mi., 05.11.2025

Details

Anhand von 337 Untersuchungsfällen werden in diesem Buch die Patentdaten der untersuchten Unternehmen, die Patentdaten der untersuchten Produkte und die Patentdaten der untersuchten Produkte der technischen Branchen aus der kommerziellen Datenbank analysiert. Die Schlussfolgerung ist: welche untersuchten Produkte hatten einen starken Schutz; welche untersuchten Produkte hatten gemeinsamen Schutz in China; welche IPC in jedem Unternehmen hatten einen starken Schutz; welche IPC und Produkte außer untersuchten Produkten in jedem Unternehmen hatten einen starken Schutz; die Auswirkungen auf die untersuchten Unternehmen und die Produkte nach 337 Untersuchungen; welche Patente sind die Kernpatente und Streitpatente.

Autorentext

Shi Zhang est titulaire d'une double maîtrise en ingénierie et en droit. Elle travaille dans une entreprise en tant que responsable de la propriété intellectuelle depuis huit ans et est chargée de l'évaluation des brevets et de l'augmentation du capital, de l'examen des contrats de propriété intellectuelle, de la concession de licences de brevets, du transfert de brevets, de l'application de marques, de logiciels et de toute autre application de droits de propriété intellectuelle.

Cart 30 Tage Rückgaberecht
Cart Garantie

Weitere Informationen

  • Allgemeine Informationen
    • GTIN 09786207559817
    • Sprache Deutsch
    • Genre Stochastik & Mathematische Statistik
    • Größe H220mm x B150mm x T6mm
    • Jahr 2024
    • EAN 9786207559817
    • Format Kartonierter Einband
    • ISBN 978-620-7-55981-7
    • Veröffentlichung 28.05.2024
    • Titel Technische Analyse der 337-Untersuchung gegenüber China
    • Autor Shi Zhang
    • Gewicht 161g
    • Herausgeber Verlag Unser Wissen
    • Anzahl Seiten 96

Bewertungen

Schreiben Sie eine Bewertung
Nur registrierte Benutzer können Bewertungen schreiben. Bitte loggen Sie sich ein oder erstellen Sie ein Konto.